报告中，周松松介绍了基于密度泛函理论的范德华修正方法，计算研究未来场效应管用二维材料双层结构（G/G，BN/BN,G/BN）的堆垛结构、广义层错能、和对应带隙。首先，周松松讲解了广义堆垛能的概念以及介绍了DFT-D2、vdW-DF2、MGGA-MS2、ACFDT-RPA四种修正方法并对这四种修正方法的优劣性进行了比较。然后介绍了他整个实验的设计思想和内容，从一维到三维给出了相应的函数对广义层错能曲面进行拟合，展示了拟合所得的二维材料双层结构的广义层错能、以及对应的各种稳态及亚稳态结构与通过ACFDT-RPA计算所得的结果的对比图。通过函数拟合少量计算结果可以精确预测二维材料双层结构的广义层错能、以及对应的各种稳态及亚稳态结构。在此基础上，进一步研究和讨论层错对于二维材料双层结构能带带隙的影响。这些结果将有助于基于二维材料的未来场效应管的最终成功应用。

提问环节中，师生们针对实验的成果的应用等自己感兴趣的方面提出了一系列相关问题，周松松也针对大家的提问进行了解答并展开了长时间的讨论。

报告人简介：

周松松，男，1991年3月生。2009年入读ylzzcom永利总站线路检测，2013年毕业，获工学学士学位，指导老师是江勇教授。同年留学美国，在美国著名常春藤盟校（Ivy League）- 宾夕法尼亚大学材料科学与工程系学习，2014年获硕士学位，并继续留校攻读博士。主要研究方向为基于密度泛函理论和分子动力学的二维材料力学性能和能带结构模拟，以及相关泛函的范德华修正方法研究。